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기술로 신뢰를 쌓고, 소재로 산업을 연결합니다.
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반도체 검사 부품 및 설비
M-RAM
프로브카드
프로브 핀
이온임플란트 소스
이온임플란트 필라멘트
LDI 노광기
텅스텐바
프로브 핀
용도
반도체 웨이퍼 검사공정에 사용되는 프로브카드의 핵심부품으로 반도체 웨이퍼 범프에 직접 접촉하여 전기적 신호를 이용하여 반도체 칩을 검사
특징
기계가공 및 에칭가공에 의한 Taper부의 정밀 가공- 금 및 알루미늄 Bump에 적합한 각종 소재 대응 (W, ReW, Pt, Au Pin, P7…)